点击图片查看原图
SmartScan-EMI-350近场扫描测试系统是一款专门设计的电磁干扰扫描系统:电磁扫描分析仪利用电场和磁场探棒逐点探测无线通讯终端、集成电路、汽车电子、IC芯片及显示器等器件和整机产品的电磁场，得到相应测试区域的电场、磁场的相对值和真实值，以分析电磁辐射干扰情况。
API的近场扫描解决方案是使用350mm或550mm4轴机器手实现的，可以准确的控制探头定位控制和高速的扫描，
电磁干扰智能扫描系统可以支持IEC61976-3和以下核心功能的标准测试；
•广泛的探头选择：
o从低于50千赫到高于35千赫的电磁干扰测量
-低频探头组：50kHz〜50MHz，探头尺寸为2mm
-窄带探头：GSM（860MHz，1950MHz），WiFi（2400MHz）等
-定制探头
•集成相机拍摄DUT图片
-在DUT图片上定义了扫描点（或区域）
-较大的DUT的图像拼接
-扫描结果自动显示在DUT图片上
•布局文件导入
-可以导入ODB文件，并且可以在布局层上定义扫描点
•灵活的扫描区域编辑器（SAE）模块
-具有不同扫描分辨率的多个扫描区域
-点，线，矩形，任何形状的扫描区域
•自动电子X-Y偏移校正
•触摸传感器检测组件高度
•连续运行多个项目
•灵活的显示选项
-3D，多层，剖切面，直方图，将多个扫描结果合并到一个显示器
更多详情：https://www.chem17.com/st396701/product_35617097.html
http://www.emiesd.cn/Products-35617097.html
